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使用超離進行預處理及顆粒大小分布測量
考慮到納米技術工業最近幾年的發展，納米級別的顆粒現在被使用在各個領域的材料里。對于納米級別樣品的顆粒分布測量，為了得到高重復性和準確性的結果，預處理是非常重要的。本文將介紹分離和去除污染物及聚集物的方法，并使用激光粒度儀對目標顆粒進行檢測。
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